| 型 號： | 德國WERTH TOMO |
| 所屬分類： | X射線工業CT斷層掃描測量儀 |
| 報 價： | 市場價: |
工業CT掃(sao)描儀(yi)可實(shi)現產品(pin)無損可視化準(zhun)確測量(liang)，并可選(xuan)配(pei)(pei)光學、光纖、探針、激光掃(sao)描等多(duo)種傳感器。對(dui)工件內(nei)外部所有結(jie)構(gou)尺寸全面(mian)的高精密測量(liang)，同時可實(shi)現工件材質(zhi)的缺(que)陷分析。可對(dui)塑(su)料、陶瓷、復合材料、金屬等多(duo)種材質(zhi)制成的產品(pin)進(jin)行(xing)無損尺寸測量(liang)和(he)裝配(pei)(pei)評估等。
Werth*家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量系統，工業(ye)CT掃描儀可實現產品無損可視化準確測量，并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復合材料、金屬等多種材質制成的產品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時，保證了高品質的要求。此工業CT掃描儀榮獲2005年度歐洲模具設計金獎。
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主要特點：
◆ *家(jia)將X射(she)線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統(tong)，實現復雜部件高(gao)精度(du)內外尺(chi)寸(cun)全面測量
◆ 可選配(pei)第二個Z軸，配(pei)置其他傳感器（光(guang)學、探 針、光(guang)纖(xian)、激光(guang)等）
◆ Werth公(gong)司技術復合式傳(chuan)感器技術，進一步保(bao)證 CT測量數據更準確
◆ 堅(jian)固的花(hua)崗巖基座，保證機器(qi)具有高穩定性
◆ 高(gao)精密機械(xie)軸承技術及線(xian)性導軌系統(tong)，確保(bao)實現zui 高(gao)精度的測量
◆ 無(wu)論(lun)從設計還是結構(gou)，測(ce)量機*并超(chao)出X射線使(shi)用安全標準
◆ 基于Werth公司優(you)異的圖形處理及(ji)3D重構技術，測量速(su)度更快
◆ Werth公司技(ji)術的X射線傳(chuan)感器獨立校(xiao)準系統
◆ Werth公(gong)司技(ji)術的柵(zha)格斷(duan)層掃描(miao)技(ji)術：
精(jing)密測量微小(xiao)部件
掃描更大尺寸工(gong)件，提高(gao)分辨(bian)率(lv)
擴展測量范(fan)圍
◆ 測量(liang)軟件可快速3D重構，也可進行2D測量(liang)
◆ 測量工件(jian)內部(bu)尺(chi)寸的同時，也(ye)可實現材質缺陷分析
◆ 選用(yong)廣泛應用(yong)的WinWerth軟件 (德國(guo)國(guo)家計量院PTB長度標準認證(zheng)) ，界面友(you)好，操作簡單
◆ 可(ke)使用*擬(ni)合(he)(he)Bestfit及公差擬(ni)合(he)(he)Tolerancefit軟件進行輪(lun)廓匹(pi)配分(fen)析及三維CAD工件公差比(bi)對
◆ 廣(guang)泛(fan)應(ying)用于復雜尺寸(cun)測量，*評估，逆向工(gong)程，質量控制等
應用領域: 模具行(xing)業、逆(ni)向工(gong)程、汽車行(xing)業、航空航天、精密機械(xie)加工(gong)、船舶等
技術參(can)數(shu)：
型 號 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大(da)測量工(gong)件尺寸(直徑) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允(yun)許誤(wu)差 (用CT傳感(gan)器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允許誤差(E1:單軸(zhou)精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射線源可(ke)選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射線(xian)探測器像(xiang)素(su) | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線(xian)探測器尺(chi)寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位速度(du) | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度(du) | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作臺承重(zhong) | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電(dian)源(yuan) | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量(liang)或(huo)CT傳(chuan)感器(qi)(qi)選(xuan)(xuan)擇同等及(ji)更(geng)高精(jing)度探(tan)針修正或(huo)光學傳(chuan)感器(qi)(qi)選(xuan)(xuan)用同等及(ji)更(geng)高精(jing)度探(tan)針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射線穿透能力：
Werth獨有的(de)用于高精度、高分辨率測量(liang)的(de)穿透型標靶射線源。此標靶在高管電(dian)壓（如300KV）和大管電(dian)流的(de)情(qing)況下能夠長時(shi)間(jian)穩(wen)定地(di)保持(chi)微米級的(de)焦點尺寸(cun)，這樣就能用微米級(ji)焦點(dian)的X射線快速的高(gao)精(jing)度(du)、高(gao)分辨(bian)率進行測量高(gao)密度(du)（如鋼）較大尺寸的零(ling)件。
| 類別 | TomoScope | ||||
| 射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
| 鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
| 鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
| 塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
| 射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
| 光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm
| 0.00X mm – 0.X mm (反(fan)射(she)) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透(tou)射) |
應用實(shi)例：
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